作者：Bruce Trump，德州仪器 (TI) 2012年10月30日
当两个附加运算放大器的特性紧密匹配时，电路受益。那么，在一个双通道或者四通道运算放大器封装内部，它们的性能如何紧密匹配呢？
在我们的精密放大器E2E论坛，最为常见的问题是如何匹配失调电压和失调电压温度漂移。例如，如果您正制作自己的仪表放大器，则运算放大器偏移匹配便会产生净零偏移。但是，请查看图1所示情况的几何尺寸情况。
每个运算放大器都有一些输入晶体管，其必须有良好的匹配，以实现低放大器失调电压。我们尽最大努力，小心地匹配这两个晶体管（可能还有其他组件对）。这种交叉四连接是最为基本的方法—把每个晶体管分成2个一半，即A和A’以及B和B’，这样两对的几何中心均相同。今天，我们使用更加精密的方法来集成晶体管。公共质心为通项。
因此，关键在于我们要对IC一面上的两共同质心输入级晶体管进行仔细的匹配。剩下为剩余随机失配。IC另一面的其他两个晶体管为什么会具有相同的随机失配呢？答案是，它们可能不会。可能还存在其他匹配偏移的原因，但是我们会努力消除系统偏移的所有源头，这样剩下便可能为随机偏移。抱歉，但是失调电压不可能紧密匹配。下面是我们常常会在产品说明书里列出的数据单：
因此，依靠内部组件（双通道或者四通道运算放大器封装）匹配的特性不可能比单个运算放大器匹配得更好。举例如下：
依靠内部组件（双通道或者四通道运算放大器封装）基础特性的这些特性，可能比单运算放大器匹配得更好：
老前辈们可能都还记得，早期的双运算放大器使用其“规定值的百分比”时往往匹配得更好。但是，这些老式器件的性能最多也只能达到中等。它们是一些非常简单的设计，没有太多地注意内部组件匹配，并且具有非常平衡的设计和IC布局，其在今天也很普遍。
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